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Patrimoine scientifique et technique
Décade :
1970s
Manomètre à aiguille Solid Front 0-750 bars HEIS
Manuels d'utilisation pour calculatrices programmables et imprimante Hewlett-Packard (ensemble de 8)
Audiomètre "Audi-vérificateur" J. Derbesse
Gravimètre LaCoste & Romberg modèle D
Système de résistivité électrique SERCEL AE 631
Verre à pied de chimie (lot de 2)
Réfrigérant non rodé pour montage à reflux
Loupe binoculaire Carl Zeiss 47 52 00-9901
Carte géologique de l'Azerbaïdjan 1:500 000, 1975 (en russe)
Barographe Jules Richard NG 5077-1-1
Balance Mettler P-1200
Boussole des tangentes Eurosap Deyrolle
Photomicroscope Nachet
Photomicroscope II Carl Zeiss
Bobine primaire pour transformateur Leybold 562 22
Fluxmètre Grassot CDC avec 7 sondes
Galvanomètre AOIP RG 223
Psychromètre à aspiration Jules Richard
Multimètre de démonstration Cimel E 211
Bobine de Ruhmkorff Eurosap Deyrolle
Bobine de Ruhmkorff Jeulin
Bande magnétique Memorex MRX V
Bande magnétique
Bande magnétique Control Data StorageMaster ALPHA 800/1600/6250
Carton de cartes perforées IBM colorées
Fluxmètre Grassot CDC
Classeur de spectres infra-rouge (1967-1975)
Classeur de spectres infra-rouge (1971-1983)
Voltmètre amplificateur Ferisol type A404
Tensiomètre Dognon-Abribat n° 714 Prolabo
Pont de Sauty Chauvin Arnoux
Spectrophotomètre UV/visible/proche infrarouge Beckman ED 1204
Modèle d'instrument de musique à corde pour TP d'acoustique
Balance Mettler PL 200
Calculatrice Texas Instruments Programmable 58
Galvanomètre / microampèremètre CIMEL
Galvanomètre / microampèremètre CIMEL B1382M
Disques durs ∅ 80 cm (lot de 3 disques seuls)
Téléphone à cadran
Agitateur magnétique Tacussel Compact
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Carl Zeiss (West Germany)
Chauvin Arnoux
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Control Data
De Dietrich & cie
Dognon-Abribat
Eurosap Deyrolle
Ferisol
HEIS (Newtown, Connecticut, USA)
Heraeus Christ
Hewlett Packard
IBM
J. Derbesse (Paris)
Jeulin
Jules Richard
Kodak
LaCoste & Romberg
Leybold
MECI
Memorex Corp.
Metrix
Mettler
Nachet
OIP
Prolabo
SERCEL SAS (France)
Schoeffel Instrument GMBH
Signetics
Tacussel
Texas Instruments
Verre et technique
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Géographie
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Mécanique des fluides
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Géophysique
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Météorologie
Métrologie
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Inventorié PATSTEC
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